بهبود برآورد ضخامت لایههای نازک در حوزه کوفرنسی
Authors
Abstract:
در لرزهشناسی تهیه یک مقطع لرزهای با قدرت تفکیک زیاد همواره یکی از اهداف پردازشگران و مفسران است و برآورد ضخامت لایهها، بهخصوص لایههای نازک یکی از ابزارهای مهم برای رسیدن به این هدف است. لایههای نازک موجب میشوند تا قلهها و شکافهای متناوبی در طیف دامنه ردلرزه تولید شود. در روش تجزیه طیفی که مرسومترین روش است، بسامد مربوط به اولین قله در طیف دامنه ردلرزه دو برابر میشود تا زمان تناوب شکافهای تولید شده بهدست آید که برابر با عکس ضخامت لایه نازک است (آنستی، 1977). در این تحقیق، نمونهای از روش تجزیه طیفی به نام تجزیه کپسترال بهکار رفته است. روش تجزیه کپسترال میتواند با دقت خوبی فاصله بین شکافهای تولید شده در طیف دامنه را به کمک محاسبه تبدیل فوریه از لگاریتم طیف دامنه ردلرزه بهدست آورد. در این تحقیق روش تجزیه کپسترال را روی مدلهای متفاوت, اِعمال و نتایج آن را با روشهای برآورد ضخامت از راه تجزیه طیفی و همچنین برآورد ضخامت بهروش اندازهگیری اختلاف زمانی بین رویدادهای لرزهای مقایسه میکنیم. نتیجه نشان میدهد که روش تجزیه کپسترال این توانایی را دارد که دقت برآورد ضخامت لایههای نازک را به شکل قابلملاحظهای بهبود بخشد.
similar resources
بهبود برآورد ضخامت لایه های نازک در حوزه کوفرنسی
در لرزه شناسی تهیه یک مقطع لرزه ای با قدرت تفکیک زیاد همواره یکی از اهداف پردازشگران و مفسران است و برآورد ضخامت لایه ها، به خصوص لایه های نازک یکی از ابزارهای مهم برای رسیدن به این هدف است. لایه های نازک موجب می شوند تا قله ها و شکاف های متناوبی در طیف دامنه ردلرزه تولید شود. در روش تجزیه طیفی که مرسوم ترین روش است، بسامد مربوط به اولین قله در طیف دامنه ردلرزه دو برابر می شود تا زمان تناوب شکا...
full textبررسی اثر ضخامت لایههای نازک بسبلوریSnO2 در حسگری گازهای O2 و CO2
در این تحقیق سه نمونه از لایه های نازک اکسید قلع خالص را که به روش اسپری پایرولیزیز بر روی زیرلایه شیشه لایه نشانی شده اند مورد مطالعه قرار دادیم. اینها به عنوان حسگر گازهای اکسیژن و دی اکسیدکربن استفاده میشوند. طیف عبوری لایه ها حاکی از نازکی لایه ها در محدوده نانومتری (nm 200-150)، و طیف XRD نشانگر تغییر سمتگیری بسبلوری از (200) به (110) میباشد که این تغییر سمتگیری بلوری به دلیل تغییر ضخام...
full textاندازه گیری ضخامت شکست لایه های نازک
در این رساله نخست تاریخچه تهیه لایه نازک ، چگونگی تهیه و روشهای مختلف همچنین شرایط لایه گذاری ذکر گردیده سپس چگونگی آماده سازی زیر لایه و شرایط لازم برای لایه نشانی آمده است . در ادامه راههای مختلف اندازه گیری ضخامت و همچنین دقت روشهای مختلف اندازه گیری بیان شده است . در قسمت کارهای عملی و تحقیقات انجام شده سیستمهای لایه گذاری مورد استفاده به همراه شمای اپتیکی دستگاه نشان داده شده است . در این ...
15 صفحه اولساخت نمونه وبررسی تجربی پدیده های ترموکرومیسم و الکتروکرومیسم در لایههای نازک اکسید وانادیم
در تحقیق حاضر، لایههای نازک اکسید وانادیوم به دو روش تبخیر حرارتی در خلاء و اسپری پایرولیزیز تهیه و خواص الکتروکرومیکی و ترموکرومیکی این لایهها و اثر پارامترهایی چون تغییر ضخامت، تغییر غلظت، دمای بازپخت و دمای زیرلایه بر خواص اپتیکی مورد بررسی قرار گرفته است. طیف عبوری نمونهها در محدودهی uv-vis اندازهگیری و گاف انرژی، نوع گذار الکترونی و همچنین ثابت های اپتیکی محاسبه شده اند. به منظور برر...
15 صفحه اولطراحی و ساخت لایههای نازک اپتیکی با نمایه ضخامت متغیر برای تولید آینههای VRM
The design method and fabrication of mirrors with variable reflectivity are presented. To fabricate such a mirror a fixed mask with a circular aperture is used. The circular aperture is considered as an extended source with cosx(θ)as its diffusion distribution function and is the parameter for the distribution function of the particles through the aperture. The thickness profile of deposited ...
full textMy Resources
Journal title
volume 38 issue 2
pages 91- 105
publication date 2012-07-22
By following a journal you will be notified via email when a new issue of this journal is published.
Keywords
Hosted on Doprax cloud platform doprax.com
copyright © 2015-2023